IC Device Tester

HOME > 민수사업 > IC Device Tester
IC Device Tester(Semiconductor Final Test Equipment) 장비제작/메모리표면에 직접 테스트를 위한 Hot / Cold Chamber

개발의의

NAND Memory, DRAM을 실장장비와 연관하여 고온에서 테스트 하던 것을 영하 30도까지 내려서 테스트 할 수 있는 장비를 개발. 영하에서 테스트 시 Membrane Air Dryer 이용하여 습기문제를 완전 해결한 장비(특허 받음)로 적용범위가 넓어지고 있다.
Mobile Test Chamber를 발판으로 삼아 Graphic Card, On-Board, SSD 16Para, 32Para, 64Para상태에서 적용하는 장비를 개발 하였습니다.

종류

Hot/Cold Tester(Mobile Device, SSD, USB)

  • DRAM, SSD, MEMORY 표면에 직접 열을 상승/하강 반복하면서 최악의
    조건으로 테스트 하여 사전 불량요인을 찾는데 많은 도움이 되며,
    자동으로 데이터 저장 및 분석이 용이한 장비이다..
  • 납기 : 발주 후 45일

Open/Close Chamber General

  • 광범위한 온도와 습도제어, 전력소비량이 적은 절전형 인공지능 시스템,
    다양한 규격 시험에 최적화된 환경 제공, 제상과정이 불필요한 연속운전으로
    보다 신뢰성 있는 시험환경을 제공하는 장비 이다.
  • 납기 : 발주 후 60일

Multi Para Rack Type Chamber(16Para, 32Para, 64Para)

  • 동시에 많은 량의 메모리를 테스트 할 수 있도록 하는 멀티 솔루션 장비로 신규 디바이스 개발 시 소켓 엔진만 제작하여 바로 테스트하여 분석할 수 있는 장비로 작업자가 사용하기 쉽게 제작하여 동시 또는 개별 테스트 할 수 있도록 소프트웨어 및 하드웨어 독자적 개발로 적용한 장비이다.
  • 납기 : 발주 후 60일

Graphic Card 실장기 적용 Chamber Mounted Equipment

  • 그래픽 카드의 NAND FLASH MEMORY 에 직접 열을 하강/상승 하는 테스트를 실시하는 것이지만 이것은 Interface Speed와 밀접한 관계가 있어 고난이도의 장비이다.
  • 납기 : 상담 후 결정